16k扫线
功能：
对半导体来料Substrate外观进行检查并记录。能识别出基板破损、划伤、污渍、外来物以及电路偏移等缺陷。
特点：
A:Handler 设计精巧，随产品名称自动换型无需人员参与;
B:Vision 单元配备高清晰度高分辨率16K彩色线扫相机，分上下两层实现物料正反两面同步检查。物料移动平稳可靠，图像采集清晰确保所有缺陷能被检测到。
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特点：
A:Handler 设计精巧，随产品名称自动换型无需人员参与;
B:Vision 单元配备高清晰度高分辨率16K彩色线扫相机，分上下两层实现物料正反两面同步检查。物料移动平稳可靠，图像采集清晰确保所有缺陷能被检测到。